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X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料，並因為材料對射線的吸收和散射效果的不同，從而使膠片感光不一樣，所以在底片上形成黑度不同的印象，據此來判斷材料內部缺點狀況的一種查驗辦法。
X射線探傷是利用X射線可以穿透物質和在物質中具有衰減的特性，發現缺點的一種無損檢測辦法。X射線的波長很短一般為0.001～0.1nm。X射線以光速直線傳播，不受電場和磁場的影響，可穿透物質，在穿透進程中有衰減，能使膠片感光。
當X射線穿透物質時，因為射線與物質的相互效果，將發生一係列極為雜亂的物理進程，其成果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強度相應減弱，這種現象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實質是依據被查驗工件與其內部缺點介質對射線能量衰減程度不同，而引起射線透過工件後強度差異，使感光材料（膠片）上取得缺點投影所發生的潛影，經過暗室處理後取得缺點印象，再對照規範評定工件內部缺點的性質和底片級別。
